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1、包裝風(fēng)格：晶振原廠出庫(kù)的晶振，都是統(tǒng)一要求包裝，包裝風(fēng)格外觀干凈大方，外盒有明顯帶有公司商標(biāo)或者公司名稱的產(chǎn)品標(biāo)簽，封裝標(biāo)簽中含有產(chǎn)品型號(hào)、規(guī)格大小、精度要求、電阻多少、數(shù)量多少、QC檢測(cè)確認(rèn)、生產(chǎn)日期等主要晶振參數(shù)信息，便于用于客戶方面核查入倉(cāng)和生產(chǎn)、核對(duì)，也是產(chǎn)品生產(chǎn)全程可追溯的重要一環(huán)。
2晶振外觀觀察：從外殼到基座及引線，有條件的可以使用放大鏡觀看，從不同角度進(jìn)行不同方位的檢查，光亮程度是否有模糊的地方，外殼是否干凈等，新的晶振外表基本沒有明顯的手印和附帶的其他碎屑，外殼和基座之間的壓封貼合部分整齊不突出并無瑕疵。而魚龍混雜電子市場(chǎng)等很多晶振做工很粗糙，肉眼就可觀測(cè)到外觀有縫隙，壓封貼合有不同程度的突起和變形，有無光澤、甚至有輕微發(fā)黃和氧化的現(xiàn)象即為劣質(zhì)產(chǎn)品。還有一種是外觀二等品，其性能都是好的，只是在外觀檢測(cè)不過關(guān)，所以就只能算是外觀二等品。
晶振外殼涂膜厚度有哪些要求跟性能影響力有多大[一]、晶振外殼涂膜厚度有哪些要求
晶振是機(jī)加工的主要原料，在生活中我們也經(jīng)常使用類似的材料。以下晶振外殼的涂膜厚度有哪些要求：
設(shè)定膜厚的上下限，上下限較小時(shí)，由于工藝限制，供應(yīng)商不能保護(hù)；當(dāng)上下限較大時(shí)，次噴涂可保護(hù)，如有二次噴涂，則可能超過膜厚的上下限；
對(duì)于較小膜厚的要求，超過了公共標(biāo)準(zhǔn)所要求的厚度，將導(dǎo)致單價(jià)的增加，一般每平方米膜厚增加1微米，將增加1.5元左右；
工程規(guī)范要求陽(yáng)極氧化膜厚度為AA25級(jí)(或相當(dāng))，而實(shí)際上，根據(jù)設(shè)計(jì)要求通常是AA15/AA20級(jí)，這樣會(huì)造成成本浪費(fèi)；AA20級(jí)的比AA15級(jí)的高出40%，而AA25級(jí)的至少高出150%。
晶振外殼的保養(yǎng)方法是大家一直在問的一個(gè)問題，晶振外殼在生活中也是比較常見的，就給大家介紹一下晶振外殼的保養(yǎng)方法。
1、切勿用手觸摸測(cè)量?jī)x的測(cè)量面，因?yàn)闈駶?rùn)的、污穢的或有汗?jié)n的手上會(huì)污染測(cè)量面，使其生銹。不要將量具與其他工具、金屬材料混合使用，以免碰傷量具。
2、使用完量具后，應(yīng)清洗干凈表面的污漬、晶振屑，松開緊固裝置，若長(zhǎng)時(shí)間(1個(gè)月以上)不使用，應(yīng)在被測(cè)表面涂上防銹油。計(jì)量器具不使用時(shí)，應(yīng)將其放入保護(hù)盒內(nèi)，較好有專人專機(jī)使用，并做好計(jì)量器具經(jīng)機(jī)構(gòu)檢測(cè)的年審記錄。
3、計(jì)量器具存放場(chǎng)所應(yīng)保持清潔、干燥，無振動(dòng)、腐蝕性氣體，遠(yuǎn)離溫度變化范圍較大或有磁場(chǎng)的場(chǎng)所。儲(chǔ)物箱中的量具應(yīng)保持干凈、干燥，不得存放其它雜物。
4、工件表面有毛刺時(shí)，先去除毛刺，再進(jìn)行測(cè)量，否則會(huì)使量具磨損，同時(shí)也會(huì)影響測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
5、不能用油石、砂布擦拭，也不能用測(cè)量?jī)x擦拭測(cè)量?jī)x的表面及測(cè)量?jī)x的檢修部，也不能拆、改、修量具。
6、禁止將卡尺量爪用作劃針、圓規(guī)或其他工具，禁止人為扭轉(zhuǎn)兩卡爪或?qū)⒘烤弋?dāng)卡板使用。
[二]、晶振外殼對(duì)晶振的性能影響力有多大
晶振外殼對(duì)晶振的性能影響力有多大?晶體振蕩器被廣泛用于各種模擬和數(shù)字電路中作為基準(zhǔn)時(shí)鐘源，其質(zhì)量的好壞直接影響到電路工作狀況，而晶振外殼(也稱晶振帽)沖壓品質(zhì)是影響晶振性能的主要因素之一。
晶振外殼采用沖床連續(xù)沖壓成型，經(jīng)大量觀察和分析發(fā)現(xiàn)，主要缺陷有內(nèi)底面與頂面的凹坑、內(nèi)底面與頂面的劃痕，側(cè)面裂口和側(cè)面撓曲。之前的研究者針對(duì)前3種缺陷，應(yīng)用計(jì)算機(jī)視覺檢測(cè)技術(shù)設(shè)備了晶振外殼缺陷檢測(cè)系統(tǒng)。側(cè)面撓曲嚴(yán)重同樣可以影響晶振的質(zhì)量，是指外殼主要側(cè)面不平行。理論上這種側(cè)面的撓曲缺陷使得本來與光源平行的內(nèi)側(cè)面發(fā)生小角度傾斜，其在圖像上的突出表現(xiàn)是晶振外殼凸緣內(nèi)側(cè)邊緣變粗和不平行。
晶振外殼的表面質(zhì)量對(duì)晶振的性能有較大的影響。針對(duì)工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)中晶振外殼撓曲缺陷的特點(diǎn)，我們可以檢測(cè)晶振外殼內(nèi)側(cè)邊緣間的距離，如果某連續(xù)的一段檢測(cè)值超出合格范圍，就判定該零件不符合要求，即存在撓曲缺陷。
滄州恒熙電子有限責(zé)任公司（http://www.hengxidianzi.com）主營(yíng)多種不同型號(hào)的晶振外殼、電源模塊外殼、金屬封裝外殼，配備鍍金、鍍鎳、鍍錫、電泳漆、陽(yáng)極氧化等表面處理加工車間、全部實(shí)現(xiàn)本廠自主生產(chǎn)加工能、縮短交期等問題。產(chǎn)品遠(yuǎn)銷北京、上海、廣州、深圳、西安、等地。